KI-gestützte Fehleranalyse in der Leiterplattenfertigung

Fiel eine Leiterplatte an der automatischen Prüfstation durch, begann die eigentliche Arbeit: Die Technikerinnen und Techniker durchsuchten stundenlang umfangreiche Textprotokolle der Prüfhardware, um die Ursache des Defekts einzugrenzen — mühsam, augenbelastend und langsam.

Wir entwickelten ein KI-gestütztes Log-Parsing-Werkzeug auf Basis eines spezialisierten Sequenzklassifikationsmodells. Es liest die großen Protokolldateien in Sekunden, hebt die drei statistisch wahrscheinlichsten verantwortlichen Bauteile hervor und verlinkt direkt auf die betreffenden Fehlerstellen im Protokoll.

Die Diagnosezyklen verkürzten sich deutlich. Das mühsame Scrollen durch Textwände entfällt — die Fachkräfte konzentrieren ihr Können wieder auf das, was zählt: den tatsächlichen Bauteiltausch und das Löten an der Platine.